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SEM解決方案
SEM解決方案
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EBIC
我們可以為您提供硬件和軟件附件的定制解決方案.
在你的掃描電子顯微鏡下使EBIC的測量成為可能。配合
femtoampere高
靈敏度,我們可以更容易地探測到無法訪問的當前信號
與其它成像系統。
我們通過提供完整的解決方案來實現這一點
最敏感的預放大器,樣本接口和屏蔽,以及一個目的
設計了具有最高分辨率的掃描控制器。
Microhezao
離子濺射儀
真空
離子濺射儀
為掃描電鏡用戶在制樣過程中提供了更廣泛的選擇,以便適用支持掃描電子顯微鏡所需的涂層要求。在結構設計及人機界面方面更加注重人性,簡單智能。GVC-1000是專用于掃描電鏡(SEM)的樣品噴金儀器,能夠極為有效的提供樣品的導電性及導熱性,確保恒沉積速率,減少等離子體對
樣品的熱影響和離子轟擊損傷.顯著提供掃描電鏡觀
測結果.
原位微納力學性能測試
FT-S微力傳感探針的精巧設計使得FT-NMT03納米力學性能測試系統能夠在SEM的最佳分析工作距離下測試。另外,其緊湊的設計能夠在力學測試的同時進行離子束的沉積
和切割。這可用于在拉伸測試中樣品與微力傳感探針針尖的粘合和移除。
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