電子束感應電流EBIC

　　我們為EBIC成像和分析提供完整的解決方案。我們可以提供一個自定義包，它包含了在掃描電子顯微鏡下進行EBIC一切所需要的測量。

我們的掃描控制器，強大的EBIC 2.0，是專門為測量非常低的EBIC信號而設計的。

1.最高增益設置的飛秒靈敏度（0.76 fA分辨率）

2.每增加一個增益設置為108 dB

3.8成像輸入與所有+-10 V信號兼容，SE，BSE，CL，鎖定放大器，等等。

4.快速的現場取樣和快捷的樣品轉移測量我們設計了許多不同類型的樣品支架。我們的通用樣品支架使幾個設備能夠在一個芯片載體上進行測試。1.可以用傾斜開關編程的芯片載波的多個接觸器

2.法拉第杯可以調節到樣本高度

3.同軸連接器，用于增加屏蔽

4.適用于幾乎任何掃描電子顯微鏡的階段

5.我們可以為您的具體應用設計一個定制的芯片載體和樣品架。

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